描述：德国蔡司用于偏光Axio Imager 2光学显微镜采用特殊设计的偏光镜筒通过辅助中间像平面可以使物体、十字准线和可变光阑同时可见。通过调节型可变光阑能够将锥光观测范围缩小至最小 10μm 的晶体粒度。已对中的 Bertrand 光路方便开关。这一特性让您在不同技术之间进行快速切换 – 甚至在采集图像或使用视频设备时。
程序简便、操作可靠
您是否正在寻找一款能够完成复杂任务、生成可靠检测结果且易于操作的显微镜？那么用于偏光显微观察的智能型 Axio Imager 将是您的满意之选。
不同种主机架可供选择
编码型、部分电动型或全电动型主机组合搭配，满足您的个性化需求。
自动组件识别技术值得信赖
自动组件识别（Automatic Component Recognition ACR）技术，使您方便的使用显微镜设置。所有电动主机架能够自动识别物镜。此外，ACR 技术还能在全电动 Z 系列主机中识别反射光模块。系统能自动对组件的变换进行登记。
无振动设计确保可靠的长时间成像
借助 Axio Imager 出色的稳定性得以实现可随时间变化的测量和高放大倍率观察。物镜转盘、z 轴升降台和载物台被设计为一个紧凑式无振动单元，独立于主机架的其余部分。这种所谓的 "stable cell" 结构设计能够创建理想的测量条件，以获得超高质量的观测结果。
扩展功能令操作更舒适
简化复杂程序。通过主机架或外置工作站上的触摸屏来控制全部电动化组件。
保存个性化设置并实现一键还原。聚焦操作方便直观 – 符合人体工程学设计的触控式按钮。
或者通过任意摆放的控制面板（可与主机架分离）来操作偏光显微系统。观察方式和光路管理器能够自动选择合适的设置，以生成可重现且可靠的观测结果。
锥光观察技术：使用偏光显微镜可以实现快速可靠的晶体结构分析
偏光显微镜能够同时采集无畸变的和锥光的图像信息。采用特殊设计的偏光镜筒通过辅助中间像平面可以使物体、十字准线和可变光阑同时可见。通过调节型可变光阑能够将锥光观测范围缩小至最小 10μm 的晶体粒度。已对中的 Bertrand 光路方便开关。这一特性让您在不同技术之间进行快速切换 – 甚至在采集图像或使用视频设备时。
始终如一的测量性能
借助可 360° 刻度和 0.1° 的游标尺的旋转、球轴安装式载物台可以轻松实现测量，（例如：用于测量矿物的解理角）
光程差测定或应变测量
大量光谱补偿器可选，涵盖从 0 至 30 λ 的测量范围。
固定光程差的补偿器
全波片 λ
四分之一波片 λ / 4
全波片 λ，可旋转角度 +/- 8°
具有可变光程差的补偿器
光楔补偿器 0-4 λ
测量补偿器
- Berek 倾斜补偿器 0-5 λ
- Berek 倾斜补偿器 0-30 λ
Axio Imager 还可提供更多方法，例如：
热显微技术
使用蔡司 AxioVision 软件进行数字分析（例如：晶粒度分析或颗粒度分析）
